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产品名称：自动粒子AOI检查设备
自动粒子AOI检查设备| 技术参数 | AOI检测机 | |
| 型号 | AOI105 | |
| 面板尺寸（mm） | L25×W30 ～ L400×W300 | |
| 厚度:0.15 ～ 2.0mm | ||
| 节拍时间 | 长边2IC+2FPC+短边1IC≤10.4S | |
| 重复测量精度 （10次重复测试） | 导电粒子数计算：BUMP内圧痕数≦10% Shit检测(XY-shift)精度：1.0μm | |
| 相机轴 | X、Z轴细分0.1um，精度±1um | |
| 电源 | 单相 AC 200-220V ，50Hz、32A | |
| 空压源 | 0.45Mpa以上,气管直径12mm,1路,200L /min | |
| 真空源 | -70KPa,气管直径12mm,1路,200L /min | |
| 设备尺寸（mm） | L3850 × W1420× H1600 | |
| 重量 | 约2400kg | |
| 基本功能 | ||
| 检测项目 | IC/FPC/COF压痕，偏位，导电粒子区域的裂缝，异物，气泡，腐蚀等缺陷检查 | |
| 4K线扫相机参数 | 拍照视野：2.1mm（有效1.8mm） 扫描速度：Max 120mm/s，Normal 80mm/s 分辨率：0.72μm/pixel 工作距离：10mm | |
| 偏位检查方法 | 粒子分布计算；mark识别计算 | |
| NG排出 | 有 | |
| 搬出补正 | 有 | |
| ※选配功能 | ||
| IC表面检查 | 选配。裂纹、欠损、划伤 | |
| 读码功能 | 选配 | |
| CIM功能 | 选配 | |
| DFS功能 | 选配 | |
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